Главная > Физика > Физика дифракции
<< Предыдущий параграф
Следующий параграф >>
<< Предыдущий параграф Следующий параграф >>
Макеты страниц

6.6. Электронографический структурный анализ

За исключением очень малых углов рассеяния, для электронов амплитуды атомного рассеяния с атомным номером возрастают плавно, но не так быстро, как для рентгеновских лучей. Разница эта наиболее очевидна для атома водорода. Рассеяние электронов зависит от потенциального поля ядра, которое частично экранируется электронами на орбитах. Ионизация атомов уменьшает экранирование и увеличивает амплитуду рассеяния. Вайнштейн [381] оценил отношение рассеяния углеродом и водородом как для рентгеновских лучей, в то время как для электронов оно составляет лишь 3 или 4. Однако ввиду легкости обнаружения атомов водорода с помощью дифракции нейтронов использование дифракции электронов для этих целей ограничено только особыми случаями, когда методы дифракции нейтронов неприменимы.

Интересно то обстоятельство, что обнаружение атомов водорода, вероятно, является случаем, когда результаты в значительной степени зависят от используемых методов. Рентгенографический метод должен дать положение максимума электронной плотности, нейтронографический — среднее положение ядра. Эти положения могут значительно различаться, если атом поляризован, как это имеет место В асимметричных связях. Пик потенциала, полученный в результате дифракции электронов, должен находиться близко к положению положительного ядра, но, поскольку вклад электронного облака отрицателен, смещение электронного распределения в одном направлении должно приводить к легкому смещению пика потенциала в противоположном направлении.

Определение длин связей в кристаллах дает рентгенографическим, нейтронографическим и электронографическим методами [271].

Без сомнения, наиболее важной чертой электронографического структурного анализа является возможность исследования кристаллов, размеры которых слишком малы для их исследования любыми другими методами. В электронной микроскопии можно использовать метод микродифракции для получения точечных электронограмм от монокристаллов толщиной в несколько сотен ангстрем и с поперечными размерами, составляющими некоторую разумную часть от минимальных областей, доступных на

практике, которые в свою очередь имеют размеры порядка для электронов с энергией и достигают 500 А для электронов с энергией Если использовать электронные микропучки, подобные тем, которые получают в настоящее время в сканирующих электронных микроскопах, диаметр области образца можно довести до 100 А или даже меньше. Таким образом, можно получать точечные электронограммы от глинистых минералов, аэрозолей, коллоидов и многих неорганических материалов, которые в рентгенографии дают в лучшем случае лишь очень размытые порошкограммы.

Из-за сильных эффектов динамического рассеяния, возникающих при дифракции электронов в большинстве случаев, когда делались попытки провести электронографические структурные исследования, использовались очень тонкие изогнутые кристаллы, разупорядоченные кристаллы или поликристаллические агрегаты, поскольку для каждого из этих случаев динамические эффекты минимизировались процессом усреднения. Обзор современного состояния электронографического структурного анализа сделан Каули [87].

ЗАДАЧИ

(см. скан)

(см. скан)

<< Предыдущий параграф Следующий параграф >>
Оглавление