Главная > Физика > Физика дифракции
<< Предыдущий параграф
Следующий параграф >>
<< Предыдущий параграф Следующий параграф >>
Макеты страниц

6.4. Методы структурного анализа

6.4.1. Метод проб и ошибок

Самым, ранним методом непосредственного нахождения параметров, не определенных симметрией, является постулирование структуры и на этой основе расчет интенсивностей для последующего их сравнения с экспериментальными интенсивностями. Из набора атомных положений с относительными координатами и амплитуд атомного рассеяния которые первоначально рассматриваются как амплитуды рассеяния на свободных атомах, рассчитывается структурная амплитуда:

Затем сравниваются с иэксп, полученными из интенсивностей.

Степень соответствия этих величин, зачастую, для большого числа значений, включенных в рассмотрение, обычно рассчитывается как -фактор:

Затем постулированные координаты изменяют, чтобы минимизировать значение Для некоторых целей более удобно минимизировать значение определяемое формулой

где весовой множитель, который определяется из оценки относительной точности различных экспериментальных определений.

Как только параметры структуры определены с достаточной точностью, можно использовать систематическую процедуру уточнения путем минимизации методом наименьших квадратов.

Другим способом такого уточнения с использованием величин обратного пространства является процедура в реальном пространстве, состоящая в последовательном расчете синтезов Фурье или контурных карт приближений электронной плотности, которые находятся суммированием ряда

где знак структурной амплитуды, рассчитанной, согласно (6.24), для пробной структуры. Если все рассчитанные знаки правильны, распределение будет давать хорошо очерченные, связанные симметрией пики, которые соответствуют положениям атомов, и равномерный фон. Если при этом наблюдаются какие-либо отклонения, то следует внести изменения в принятую модель.

<< Предыдущий параграф Следующий параграф >>
Оглавление