Главная > Физика > Физика дифракции
<< Предыдущий параграф
Следующий параграф >>
<< Предыдущий параграф Следующий параграф >>
Макеты страниц

18.4.4. n-волновые дифракционные эффекты

Если считать справедливым колонковое приближение, расчеты дифракционных амплитуд или интенсивностей изображений можно провести, модифицируя программы для ЭВМ для совершенных монокристаллов. Многие исследователи использовали уравнения Хови и Уилана, данные в гл. 10. Так же хорошо можно применять и методы, рассмотренные в гл. 11, если заменить постоянные значения фурье-коэффициентов распределений потенциала различных слоев на значения, которые являются функциями их глубины в кристалле. Значения этих коэффициентов Фурье для различных слоев получают с помощью вспомогательных программ, исходя из предполагаемой формы возмущения в структуре.

Если колонковое приближение недостаточно, как в случае расчетов изображений с высоким разрешением (2—3 А) искаженных кристаллических структур, то можно использовать метод, упомянутый в конце гл. 11; тем самым предполагают, что дислокация или какой-либо другой дефект встречается с каким-то периодом, а расчеты проводят как в случае структуры с большой элементарной ячейкой с учетом большого числа дифрагированных пучков.

Одно из важных следствий -волнового приближения — метод Кокейна и др. [58] для получения темнопольного изображения с помощью слабого пучка. Эти авторы показали, что если для получения темнопольного изображения вместо сильного внутреннего отражения использовать слабое отражение, соответствующее точке обратной решетки, далеко отстоящей от сферы Эвальда, то изображения дислокаций получаются более резкими. В этом методе ширина изображения составляет 10—20 А по сравнению с 100— 200 А, которые наблюдаются при обычных методах. Соответственно становится возможным наблюдение многих тонких деталей в участках разделения дислокаций и их взаимодействия.

Кокейн указал на то, что простое псевдокинематическое описание приводит к хорошему согласию с экспериментом. Можно утверждать, что для точек обратной решетки, далеко отстоящих от сферы Эвальда, заметная интенсивность будет возникать лишь тогда, когда плоскости решетки наклонены на относительно большой угол, а это возможно лишь вблизи ядра дислокации. Однако разрешение изображения, достигнутое в настоящее время, таково, что описание с помощью плоскостей решетки становится неадекватным для области ядра дислокации и расчет интенсивности должен в любом случае включать n-волновые динамические расчеты.

Дальнейшие возможности изучения конфигураций атомов в пределах ядра дислокации с помощью непосредственного получения изображений положений атомов — дело близкого будущего.

ЛИТЕРАТУРА

(см. скан)

(см. скан)

<< Предыдущий параграф Следующий параграф >>
Оглавление