Главная > Физика > Физика дифракции
<< Предыдущий параграф
Следующий параграф >>
<< Предыдущий параграф Следующий параграф >>
Макеты страниц

18.4.3. Усреднение по углам падения

В электронной микроскопии падающий пучок обычно делают сходящимся на уровне образца путем фокусировки с помощью конденсорной линзы и переднего поля объективной линзы, однако угол

сходимости редко приближается к значению рад и обычно меньше угловой ширины для случая сильного отражения. Следовательно, приближение плоской падающей волны не приводит к появлению серьезных ошибок.

В сканирующей электронной микроскопии часто бывает удобным использовать широкоугловой детектор для отбора значительной части рассеянного излучения. На основе принципа взаимности (см. [93-96]) можно показать, что это эквивалентно использованию очень большого угла падения в обычной просвечивающей электронной микроскопии. Контраст изображения в этом случае дается усреднением по большому интервалу направлений падающего пучка. Этот эффект сильно понижает контраст полос от дефектов упаковки. Общий контраст изображения дислокаций несколько понижается, осциллирующая компонента стремится исчезнуть и изображение дислокации стремится стать однородно темным (на позитиве светлопольного изображения) [29].

Изображение дислокаций в рентгеновской топографии представляет собой экстремальный случай усреднения по падающим углам. При условии достаточно хорошей коллимации падающего пучка обычными рентгенографическими устройствами угол сходимости этого пучка примерно на два порядка величины больше угловой ширины отражений от совершенных областей кристалла (обычно рад). Изображения дислокаций представляют собой почти однородные черные линии с весьма незначительными следами осциллирующего контраста или асимметрии [278]. Конечно, можно получить хорошо сколлимированные падающие рентгеновские пучки, используя, например, прохождение через толстый почти совершенный кристалл. В таких условиях можно наблюдать полный набор эффектов динамического контраста, как в электронной микроскопии. Фиг. 18.4 является рентгеновской топограммой кристалла

(кликните для просмотра скана)

кремния, на которой видны толщинные полосы и изображения дислокаций с некоторым осциллирующим контрастом.

<< Предыдущий параграф Следующий параграф >>
Оглавление