Главная > Физика > Физика дифракции
<< Предыдущий параграф
Следующий параграф >>
<< Предыдущий параграф Следующий параграф >>
Макеты страниц

16.2.4. Динамические интенсивности при дифракции электронов

Трактовка динамического рассеяния электронов несовершенными кристаллами на той же основе, что и «экстинкционная» трактовка дифракции рентгеновских лучей или нейтронов, вряд ли возможна. В самом деле, в пределах кристаллических областей, гораздо меньших обычного размера блока мозаики, имеют место сильные динамические эффекты; кроме того, на пути пучка электронов при прохождении его через монокристаллический образец редко встречается больше одного или двух блоков мозаики.

Большую часть точечных дифракционных картин, получаемых от несовершенных, изогнутых или мозаичных кристаллов, следует рассматривать как сумму динамических дифракционных картин от отдельных почти совершенных кристаллов. В некоторых случаях, когда перекрываются непараллельные кристаллы, будут существовать эффекты двойной дифракции, при которой дифракционный пучок от первого кристалла действует как первичный пучок для второго кристалла; положения возникающих при этом дифракционных пятен определяются суммами действующих векторов дифракции для отдельных кристаллов. Когда не существует простого соотношения между ориентациями двух кристаллов, направления дважды дифрагировавших пучков таковы, что никакие когерентные взаимодействия с однократно рассеянными пучками не возникают. Этот случай называют вторичным упругим рассеянием [69], чтобы показать его отличие от когерентного многократного (динамического) рассеяния.

В целом можно считать, что точечные электронные дифракционные картины от больших областей тонких кристаллических пленок представляют собой усреднение интенсивностей динамической дифракции по некоторому диапазону толщин и ориентаций.

Попытки найти аналитические выражения для интенсивностей дифракции электронов для кристалла, усредненного по ориентации и толщине, не привели к какому-нибудь очень полезному результату [95, 259]. Усреднение интенсивностей, вычисленных с использованием -волновой дифракции, по толщине уже выполнено, но усреднение по диапазону углов падения является трудоемким. Существуют указания, что, когда интенсивности в дифракционной картине усреднены одним из двух этих способов или ими обоими, они отвечают картине пятен, которая характеризует кристаллическую структуру, но уже не связана с кинематической дифракцией.

При усреднении по толщине для совершенного кристалла, находящегося в главной ориентации, сохраняются характерные погасания, соответствующие некоторой симметрии свойств кристалла но для несовершенных кристаллов или после усреднения по ориентации это не обязательно так.

<< Предыдущий параграф Следующий параграф >>
Оглавление